光电耦合器检测
发布时间:2020-10-28
检测范围:外光路光电耦合器、内光路光电耦合器、外光路光电耦合器、光敏器件输出型、NPN三极管输出型、达林顿三极管输出型、逻辑门电路输出型、低导通输出型、光开关输出型
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测范围:
外光路光电耦合器、内光路光电耦合器、外光路光电耦合器、光敏器件输出型、NPN三极管输出型、达林顿三极管输出型、逻辑门电路输出型、低导通输出型、光开关输出型、功率输出型、同轴型,双列直插型,TO封装型,扁平封装型,贴片封装型,以及光纤传输型、数字型光电耦合器、线性光电耦合器、低速光电耦合器、高速光电耦合器、单通道,双通道和多通道光电耦合器、普通隔离光电耦合器、高压隔离光电耦合器、低电源电压型光电耦合器、高电源电压型光电耦合器等
检测项目:电性能测试、光性能测试、可靠性测试、电磁相容性、噪声等级、谐波测试等
检测周期:一般7-15个工作日出具检测报告
检测费用:请咨询在线工程师或直接拨打全国免费咨询电话。
相关标准
SIS SS CECC 20004-1988 空白详细规范.有光电晶体管输出的环境额定光电耦合器
NF C96-005-5/A1-2015 半导体设备. 分离式设备. 第5-5部分: 光电设备. 光耦合器
SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013 半导体器件.分立器件.第5-5部分:光电器件.光电耦合器
GJB 33/21-2011 半导体光电子器件.GD310A系列光电耦合器详细规范
GJB 33/20-2011 半导体光电子器件.GH302型光电耦合器详细规范
GJB 33/23-2011 半导体光电子器件.GH3201Z-4型光电耦合器详细规范
GJB 33/22-2011 半导体光电子器件.GO103型光电耦合器详细规范
GJB 33/19-2011 半导体光电子器件.GH302-4型光电耦合器详细规范
GJB 33/17-2011 半导体光电子器件.GO11型半导体光电耦合器详细规范
合作客户展示
部分资质展示