电子陶瓷产品质量检测
发布时间:2025-05-23
检测项目密度、孔隙率、维氏硬度、抗弯强度、断裂韧性、热膨胀系数、导热系数、介电常数、介电损耗、绝缘电阻率、击穿场强、压电系数d33、机电耦合系数、Q值品质因数、居里温度、抗热震性、耐酸碱腐蚀性、表面粗糙度、晶粒尺寸分布、气孔形貌分析、元素成分分析、相组成鉴定、体积电阻率、介质耐电压强度、老化性能测试、高温蠕变率、低温脆性试验、抗辐射性能评估、磁导率测试(铁氧体类)、频率温度特性曲线检测范围氧化铝基板、氮化硅轴承球、钛酸钡电容器瓷料、锆钛酸铅压电陶瓷片、氧化锌压敏电阻器、微波介质谐振器基板、多层陶瓷电容器(
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
密度、孔隙率、维氏硬度、抗弯强度、断裂韧性、热膨胀系数、导热系数、介电常数、介电损耗、绝缘电阻率、击穿场强、压电系数d33、机电耦合系数、Q值品质因数、居里温度、抗热震性、耐酸碱腐蚀性、表面粗糙度、晶粒尺寸分布、气孔形貌分析、元素成分分析、相组成鉴定、体积电阻率、介质耐电压强度、老化性能测试、高温蠕变率、低温脆性试验、抗辐射性能评估、磁导率测试(铁氧体类)、频率温度特性曲线检测范围
氧化铝基板、氮化硅轴承球、钛酸钡电容器瓷料、锆钛酸铅压电陶瓷片、氧化锌压敏电阻器、微波介质谐振器基板、多层陶瓷电容器(MLCC)、半导体封装陶瓷管壳、热敏电阻NTC/PTC元件、燃料电池电解质隔膜、压电蜂鸣器振子片、高温共烧陶瓷(HTCC)基板、低温共烧陶瓷(LTCC)基板、透明氧化铝灯管套管、碳化硅密封环、氧化铍散热基板(限工业用途)、氮化铝电路基板、压电喷墨打印头组件、声表面波滤波器芯片基材、磁芯铁氧体磁环/磁片/磁棒/磁珠/磁瓦/磁条/磁块/磁管/磁帽/磁盖/磁座/磁轭检测方法
阿基米德排水法测定体积密度与显气孔率;三点弯曲试验机执行抗弯强度测试;激光闪射法测量导热系数;LCR数字电桥测定介电参数;准静态d33测量仪获取压电常数;扫描电子显微镜(SEM)分析微观结构;X射线衍射仪(XRD)进行物相定性定量分析;热机械分析仪(TMA)测定热膨胀系数;高温介电温谱系统评估温度特性;金相显微镜配合图像软件统计晶粒尺寸;四探针法测试体积电阻率;击穿电压测试仪验证介质耐压强度;酸碱浸泡实验评估化学稳定性;热震循环试验箱验证抗热震性能;激光粒度仪测定原料粉末粒径分布检测标准
GB/T5594.1-2018电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第1部分:总则GB/T3389-2015压电陶瓷材料性能测试方法JC/T2147-2012高纯氧化铝陶瓷制品IEC61000-4-21:2011电磁兼容性测试中的混响室法ASTMC1161-18先进陶瓷室温弯曲强度测试标准ISO14704:2016精细陶瓷(高级陶瓷,高技术陶瓷)-室温下单片陶瓷弯曲强度的测定JISR1601:2008精细陶瓷的弯曲强度试验方法GB/T16535-2008精细陶瓷线膨胀系数试验方法SJ/T11038-2016电子陶瓷材料体积电阻率测试方法ASTMD150-11(2018)固体电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法检测仪器
万能材料试验机:执行三点弯曲/压缩强度测试;激光导热仪:非接触式测量热扩散系数与导热率;精密阻抗分析仪:10Hz-120MHz宽频介电特性分析;扫描电子显微镜(SEM-EDS):微观形貌观察与元素成分联用分析;X射线衍射仪:晶体结构解析与相含量计算;高温介电温谱系统:-150℃~500℃温区介电参数动态监测;金相试样制备系统:包含切割机/镶嵌机/研磨抛光机等制样设备;激光粒度分析仪:0.02μm-2000μm粒径分布测定;四探针电阻率测试仪:片状/块状材料导电性能评估;精密热膨胀仪:0.1ppm/℃级分辨率的热膨胀系数测量检测服务范围
1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。
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