纳米粉体材料性能检测

检测项目

粒径分布、比表面积、孔隙率、zeta电位、晶体结构分析、元素组成、表面官能团、团聚指数、密度测定、热稳定性、磁性参数、电导率、光催化活性、抗菌性能、分散稳定性、形貌特征、晶格常数、氧含量分析、重金属残留量、pH值测试、流动性指数、振实密度、吸油值测定、红外光谱特征、紫外可见吸收特性、X射线衍射峰强度、拉曼光谱位移、热重损失率、介电常数、磁滞回线参数

检测范围

纳米二氧化钛、纳米氧化锌、碳纳米管、石墨烯粉体、纳米银粉体、纳米氧化铁红粉体、氮化硼纳米片层材料、纳米羟基磷灰石粉体、纳米二氧化硅气凝胶粉体、量子点粉体材料（CdSe/CdS）、纳米氧化铝抛光粉体、纳米碳酸钙填充剂粉体、纳米氧化铈催化剂粉体、金属有机框架材料（MOFs）粉体、纳米金刚石磨料粉体、纳米磷酸铁锂正极材料粉体、纳米氧化锆陶瓷粉体、纳米碳化硅增强相粉体、纳米蒙脱土复合材料粉体、纳米氧化镁阻燃剂粉体、纳米氧化铜导电浆料粉体、纳米钛酸钡介电陶瓷粉体、纳米氧化镍电极材料粉体、纳米钨合金硬质相粉体、纳米羟基氧化钴储能材料粉体

检测方法

1.激光粒度分析法：基于Mie散射理论测量0.1-3000μm粒径分布2.BET氮吸附法：通过多层吸附模型计算比表面积及孔径分布3.X射线衍射（XRD）：采用布拉格方程解析晶体结构及晶粒尺寸4.透射电镜（TEM）：直接观测5nm以下颗粒形貌及晶格条纹5.Zeta电位测试：通过电泳光散射测定颗粒表面电荷特性6.热重-差示扫描量热联用（TG-DSC）：同步分析热稳定性与相变过程7.振动样品磁强计（VSM）：测量饱和磁化强度与矫顽力参数8.傅里叶红外光谱（FTIR）：表征表面官能团及化学键类型9.电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：定量分析痕量金属杂质含量10.动态光散射（DLS）：实时监测悬浮体系分散稳定性

检测标准

GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法的通用要求》ASTME2865-12(2020)《纳米颗粒zeta电位测量的标准指南》JISR1626:2019《X射线衍射法测定陶瓷粉末的晶粒尺寸》ISO/TS80004-2:2021《纳米技术-词汇-第2部分：纳米颗粒》GB/T19077-2016《粒度分布-激光衍射法》ASTMD3849-14a《碳黑形态特征测定的标准试验方法》ISO19749:2021《扫描电子显微镜法测定纳米颗粒尺寸及形状分布》GB/T36065-2018《纳米材料生物效应的透射电子显微镜表征方法》EN17199-3:2019《工作场所暴露-碳纳米管及碳纳米纤维的测量》

检测仪器

1.场发射扫描电镜（FE-SEM）：配备能谱仪实现1nm分辨率形貌观测与元素面分布分析2.高分辨透射电镜（HRTEM）：配备球差校正器可解析0.07nm晶格结构3.全自动物理吸附仪：采用静态容量法完成77K液氮温度下的微孔精确表征4.动态图像粒度分析仪：结合高速摄像与图像算法统计颗粒二维投影参数5.X射线光电子能谱仪（XPS）：通过光电效应测定表面元素化学态及组成比例6.振动样品磁强计：配置超导磁体能实现3T磁场下的磁学特性测试7.同步热分析仪：同步采集0.1μg精度质量变化与热流信号关联分析8.激光共聚焦拉曼光谱仪：空间分辨率达300nm的分子振动模式识别设备9.四探针电阻率测试系统：采用范德堡法测量半导体材料的载流子迁移率10.全自动zeta电位分析仪：集成相位分析光散射技术实现宽浓度范围测试

检测服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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