氧化铒稀土元素含量检测

检测项目

氧化铒纯度：测定样品中铒元素的含量百分比。参数：检测范围99.0%~99.99%，精度±0.01%。

稀土杂质元素含量：分析其他稀土元素如镱、镥的痕量存在。参数：检出限0.001μg/g，使用质谱技术。

非稀土金属杂质：检测铁、铝、钙等元素的含量。参数：光谱法，检出限0.1ppm。

水分含量：测定样品中的残留水分。参数：卡尔费休法，检测范围0.01%~5%。

灼烧损失：测量加热后质量损失反映挥发性杂质。参数：温度1000°C，时间2小时。

粒度分布：分析粉末颗粒大小的分布特性。参数：激光散射法，范围0.1~1000μm。

比表面积：测定粉末的表面积特性。参数：BET氮吸附法，范围0.1~1000m²/g。

晶体结构：表征氧化铒的晶体相纯度。参数：X射线衍射法，角度5~90°。

稀土元素比例：分析铒与其他稀土元素的相对含量。参数：发射光谱法，精度±2%。

放射性元素含量：检测铀、钍等放射性杂质。参数：γ光谱法，检出限0.1Bq/g。

酸不溶物：测定不溶于酸的杂质含量。参数：酸处理法，检测范围0.01%~1%。

氯离子含量：分析氯化物杂质水平。参数：离子色谱法，检出限0.01μg/g。

检测范围

高纯氧化铒粉末：用于荧光材料和激光应用的基础原料。

稀土化合物原料：作为催化剂或电子材料的制备组分。

光纤通讯材料：掺铒光纤放大器涂层的关键组分。

激光晶体基质：固态激光器中的核心材料。

催化剂：石油裂解工业中的活性载体。

电子陶瓷：电容器和传感器的添加剂。

核工业材料：屏蔽或燃料添加剂。

医疗成像剂：MRI造影剂的成分。

半导体掺杂剂：芯片制造中的掺杂材料。

环境监测样品：土壤和水体中的稀土污染样本。

地质勘探样本：矿石和矿物中的稀土元素分析。

回收材料：电子废料中提取的氧化铒再利用。

检测标准

ASTM E1479：稀土元素含量的电感耦合等离子体光谱测定标准。

ISO 11885：水质元素分析的电感耦合等离子体发射光谱法。

GB/T 8762.1：稀土金属及化合物化学分析方法通用规范。

GB/T 12690：稀土氧化物中杂质元素的测定标准。

ISO 17294：电感耦合等离子体质谱法测定元素含量。

GB/T 20127：X射线荧光光谱法测定多元素含量。

检测仪器

电感耦合等离子体质谱仪：用于高灵敏度元素分析，测定痕量稀土杂质含量。

电感耦合等离子体发射光谱仪：实现多元素同时定量分析，用于主成分检测。

X射线荧光光谱仪：非破坏性定量分析稀土元素，扫描氧化铒样品。

原子吸收光谱仪：特定元素的定量检测，如非稀土金属杂质分析。

热重分析仪：测定水分和灼烧损失，评估样品挥发性杂质。

激光粒度分析仪：测量颗粒大小分布，确保粉末均匀性。

比表面积分析仪：通过气体吸附法测定表面积，评估材料活性。

检测服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

合作客户展示

部分资质展示