聚焦离子束FIB测试

发布时间：2023-02-23

聚焦离子束FIB测试可以实现对材料的成像、刻蚀、诱导沉积和注入的分析。中析检测中心是拥有CMA资质认证的综合性科研机构，提供无挥发性固体、块体等样本的检验测试服务，一般在7-10个工作日内就可出具检验测试报告。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

检测内容概述

适用样品：

无挥发性，固体、块体长宽最好小于20mm，高度小于5mm。

样品要求导电性良好，如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理。

透射样品制备只保证切出的样品厚度可以拍透射。

测试项目简介：

结构分析、材料表征、芯片修补、生物检测、三维重构、材料转移等，该系统可适用于横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工。

聚焦离子束系统采用聚焦的离子束对样品表面进行轰击，并由计算机控制离子束的扫描或加工轨迹、步距、驻留时间和循环次数，以实现对材料的成像、刻蚀、诱导沉积和注入的分析系统。其应用已经从界面检测扩展到纳米图像制备、透射样品制备、三维成像和分析、电路编辑和修复等，在材料科学、生物、半导体集成电路、数据存储磁盘等领域有广泛的应用。

检测周期：一般7-15个工作日出具检测报告。

检测费用：请咨询在线工程师或直接拨打咨询电话。