布拉格角测量

检测项目

晶面间距：通过测量衍射角，根据布拉格定律计算特定晶面族之间的垂直距离，是晶体结构分析的基础参数。

晶体取向：确定单晶或多晶晶粒在空间中的排列方向，对于外延生长和织构分析至关重要。

应力与应变：通过测量晶面间距的变化，计算材料内部存在的宏观或微观应力及应变状态。

物相鉴定：通过比对衍射谱线与标准数据库，确定样品中存在的结晶相种类。

结晶度：评估多晶或聚合物材料中结晶部分与非晶部分的相对比例。

晶粒尺寸：利用衍射峰的展宽效应，通过谢乐公式估算样品中微小晶粒的平均尺寸。

外延层厚度：通过分析高阶衍射峰的干涉条纹，精确测定半导体外延薄膜的厚度。

晶格常数：精确测定单胞的几何尺寸，是表征晶体结构最直接的参数之一。

织构分析：研究多晶材料中晶粒取向的分布规律，即择优取向的程度和类型。

缺陷密度评估：通过分析衍射峰的强度、形状和位置变化，间接评估晶体中的位错、层错等缺陷信息。

检测范围

半导体单晶与外延片：用于硅、砷化镓、氮化镓等材料的质量监控、外延层匹配和缺陷检测。

金属与合金材料：分析热处理后的相变、残余应力、织构演变以及疲劳损伤等。

陶瓷与耐火材料：鉴定复杂氧化物相组成，测量烧结过程中的应力与晶粒生长。

高分子聚合物：测定半结晶聚合物的结晶度、晶型以及分子链的取向状态。

薄膜与涂层：表征物理气相沉积、化学气相沉积等工艺制备的薄膜应力、厚度和结构。

地质与矿物样品：用于矿物组成鉴定、晶体结构分析以及地质应力历史研究。

生物矿物与仿生材料：如骨骼、牙齿中的羟基磷灰石晶体结构分析。

纳米材料与粉末：测定纳米颗粒的晶粒尺寸、晶型以及因尺寸效应引起的晶格畸变。

催化剂材料：分析活性组分的晶相结构、分散度以及在使用过程中的结构变化。

考古与文化遗产：无损鉴定古代陶瓷、金属制品的物相组成和制作工艺信息。

检测方法

高分辨X射线衍射法：使用高准直单色X射线，实现极高的角分辨率，用于外延层和完美晶体的精密测量。

双晶衍射法：利用参考晶体进行单色化和准直，极大降低仪器宽化效应，适合缺陷和应力的高灵敏分析。

粉末衍射法：对多晶粉末样品进行扫描，获得全谱衍射信息，是物相鉴定和结构解析的通用方法。

掠入射X射线衍射法：X射线以极小角度入射，增强表面或薄膜层的衍射信号，降低基底干扰。

摇摆曲线测量：固定探测器在衍射角位置，旋转样品扫描入射角，用于评估晶体质量、镶嵌度和取向分布。

倒易空间映射：在倒易空间中进行二维扫描，能清晰区分应变与晶粒尺寸对峰宽的影响，全面表征外延层。

劳厄背反射法：使用白光X射线照射固定单晶，通过分析产生的衍射斑点图案快速确定晶体取向。

能量色散衍射法：利用不同能量的X射线同时产生衍射，固定几何条件，适用于动态过程或受限环境的测量。

同步辐射XRD：利用同步辐射源的高亮度、高准直和宽波段特性，实现超快、微区和高分辨的测量。

面探针衍射技术：采用二维面探测器快速采集大范围的衍射信息，适用于动态过程研究和织构的快速测定。

检测仪器设备

高分辨X射线衍射仪：核心设备，通常配备多晶单色器、多轴测角仪和高精度探测器，用于精密角度测量。

双晶衍射仪：由两个高完整性的单晶单色器构成，具有极高的角分辨率和波前纯度。

粉末X射线衍射仪：常规分析仪器，通常采用布拉格-布伦塔诺几何，配备线探测器或面探测器。

微区X射线衍射系统：结合毛细管聚焦光学或反射镜，将X射线束斑缩小至微米量级，实现微小区域的定点分析。

四圆测角仪：一种多自由度样品台，可使单晶样品在空间中任意取向，用于单晶结构解析和取向测定。

二维面探测器：如成像板、CCD或像素探测器，可瞬间记录整个德拜环或部分倒易空间信息。

X射线单色器：通常由完美锗、硅单晶制成，用于从原级X射线中提取单一波长的特征辐射。

高精度测角仪：角度定位精度可达0.0001度，是精确测量布拉格角的关键机械部件。

可变狭缝系统：包括发散狭缝、防散射狭缝和接收狭缝，用于控制光束尺寸、分辨率和强度。

应力分析专用附件：如Ψ测角仪或二维探测器配置，专门设计用于样品倾斜以测量不同方向的应变。

检测服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

合作客户展示

部分资质展示