达特安瑞光谱分析

检测项目

元素定性分析：确定样品中存在的元素种类，是光谱分析的基础功能。

元素定量分析：精确测定样品中特定元素的含量或浓度。

合金成分鉴定：快速、准确地分析金属合金中各元素的组成比例。

痕量元素检测：对样品中含量极低（ppm甚至ppb级）的元素进行高灵敏度测定。

材料纯度评估：通过分析杂质元素种类和含量，评估高纯材料的纯度等级。

镀层厚度与成分分析：无损或微损测定材料表面镀层的厚度及元素构成。

矿物与矿石分析：鉴定矿物种类并分析其有价元素和伴生元素含量。

环境有害元素筛查：检测土壤、水体、大气颗粒物中的铅、汞、镉等有害元素。

生物组织元素谱：分析动植物组织中的常量与微量元素分布。

同位素比值测定：在某些配置下，可进行特定元素的同位素丰度比分析。

检测范围

金属材料：涵盖钢铁、铝合金、铜合金、钛合金等各种黑色与有色金属及其制品。

地质与矿产：包括岩石、矿物、土壤、沉积物、矿石精矿等地质样品。

环境样品：适用于水体（淡水、海水）、大气颗粒物、固体废弃物、污泥等环境基体。

电子产品与元器件：用于电路板、焊料、芯片封装材料中的元素成分与有害物质检测。

石油化工产品：分析原油、润滑油、催化剂中的金属杂质及添加剂元素。

食品药品安全：检测食品中的营养元素、重金属污染物，以及药品原料的元素杂质。

考古与文物鉴定：无损分析陶瓷、玻璃、金属文物等的元素组成，辅助断代与溯源。

生物与医学样本：如头发、血液、尿液、组织切片中的元素含量分析。

高纯材料：半导体硅片、高纯试剂、光学玻璃等对杂质要求极高的材料。

法证科学物证：对玻璃碎片、油漆片、枪击残留物等进行元素比对分析。

检测方法

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：利用高温等离子体激发样品，通过测量特征发射光谱进行多元素同时分析。

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：将ICP作为离子源，结合质谱仪，提供极低的检出限和同位素信息。

火花直读光谱法（Spark-OES）：主要用于固体金属样品的快速、无损成分分析，常用于冶金过程控制。

电弧/火花发射光谱法：传统固体进样方法，适用于金属、矿物等导电样品的半定量与定量分析。

激光诱导击穿光谱法（LIBS）：利用高能激光脉冲烧蚀样品产生等离子体，实现快速原位、微区分析。

X射线荧光光谱法（XRF）：通过测量样品受X射线激发产生的次级X射线荧光进行无损元素分析。

原子吸收光谱法（AAS）：基于基态原子对特征光辐射的吸收进行单一元素定量测定。

原子荧光光谱法（AFS）：尤其适用于汞、砷、硒等易形成氢化物元素的超痕量分析。

辉光放电发射光谱法（GD-OES）

辉光放电发射光谱法（GD-OES）：特别适用于材料表面深度剖面分析，可逐层测定成分随深度的变化。

微波等离子体发射光谱法（MP-AES）：使用空气运行的微波等离子体，运行成本低，适用于常规元素分析。

检测仪器设备

电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）：核心部件包括雾化器、雾化室、射频发生器、等离子体炬管、光栅分光系统及检测器。

电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：由ICP离子源、接口锥、离子透镜、质量分析器（通常为四极杆）及检测器组成。

火花直读光谱仪：包含火花激发源、样品台、光学系统（帕邢-龙格架或中阶梯光栅）及光电倍增管阵列。

激光诱导击穿光谱仪（LIBS）：主要组件有脉冲激光器、聚焦光学系统、样品室、光谱采集系统和时序控制器。

手持式/台式X射线荧光光谱仪（XRF）：包含X射线管或放射性同位素源、样品杯、准直器、探测器及数据分析软件。

原子吸收光谱仪（AAS）：由光源（空心阴极灯）、原子化器（火焰或石墨炉）、分光系统及光电检测器构成。

原子荧光光谱仪（AFS）：主要包括激发光源、原子化器（常为氢化物发生器）、光学系统及日盲光电倍增管。

辉光放电发射光谱仪（GD-OES）：关键部件为辉光放电射频源、阳极筒、恒压恒流电源、光谱仪和深度剖析软件。

微波等离子体原子发射光谱仪（MP-AES）：采用氮气微波等离子体炬，配备多元素同时测定的CCD检测器。

辅助设备与系统：包括自动进样器、微波消解仪/电热板（用于样品前处理）、超纯水系统、高纯气体供应系统及标准物质。

检测服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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