晶体管开关测试

中析研究所从事晶体管开关测试多年，领域凭借先进的仪器设备，雄厚的技术实力，本着“公正、科学、准确、严谨、诚信”的服务方针，打造国内高精尖的第三方检测机构。第三方检测实验室工作的主要目标是改进和控制社会产品的质量，国际或国家标准通常被用作第三方检测机构的首要参照标准。

中析检测为您提供的检测服务包含指标类及分析类的多样化检验项目、实验数据的可参考性高，出具的报告适用性广，认可度高。

检测项目简介

检测样品：3AKl-5、3AKll-15、3AKl9-3AK20、3AK20-3AK22、3CKl-4、3CK7、3CK8、3DK2-4、3DK7-9、:2JD1556、2SD1887、2SD1455、2SD1553、2SD1497、2SD1433、2SD1431、2SD1403、2SD850等.

检测项目：中心频率、截止频率、通带带宽、插入损耗、纹波、带内波动、带内驻波比、回波损耗、阻带抑制度、延迟、带内相位线性度等。

检验参考标准：

DIN IEC 60574-18-1991 视听、视频和电视设备及系统.第18部分:声像用自动幻灯放映机与内装双向三极管开关的连接器

JJG(电子) 04025-1989 Q04型中小功率晶体三极管开关参数计量标准装置检定规程

GB/T 6218-1996 开关用双极型晶体管空白详细规范

GB/T 15449-1995 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范

SJ/T 1838-2016 半导体分立器件 3DK29型NPN硅小功率开关晶体管详细规范

DLA MIL-PRF-19500/455 H-2008 半导体装置,NPN硅电源开关晶体管

DLA SMD-5962-00521 REV E-2008 单片硅互补开关场效应晶体管驱动,耐辐射数字线性微电路

TIS 2124-2002 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管.第3节:外壳额定开关场效应晶体管的空白详细规范

DLA SMD-5962-86855 REV A-2003 硅单块 8比特带终端开关晶体管-晶体管逻辑电路和闭回路鉴定与报告兼容输入的并行输入串行输出移位寄存器,高速互补金属氧化物半导体,数字微型电路

DLA SMD-5962-86856 REV A-2003 硅单块 带三态输出和终端开关晶体管-晶体管逻辑电路和闭回路鉴定与报告兼容输入的八进制D型止动销 高速互补金属氧化物半导体 数字微型电路

DLA SMD-5962-96775 REV A-2003 互补金属氧化物半导体,16-BIT入射波开关母线三状态输出接收器,晶体管兼容输入硅单片电路数字微电路

JEDEC JESD73-4-2001 7 3867描述标准：2.5V,双重5-比特,2-端口,DDR 场效晶体管开关

DLA SMD-5962-89669 REV A-2001 硅单片,四重单刀单掷结型场效应晶体管模拟开关,线性微型电路

SJ 50033/148-2000 半导体分立器件.3DK35B～F功率开关晶体管详细规范

SJ 50033/82-1995 半导体分立器件.3DK100型NPN硅小功率开关晶体管详细规范

SJ 50033/90-1995 半导体分立器件.3DK106型NPN硅小功率开关晶体管详细规范

其他相关：

晶体管开关电路(工作在饱和态)在现代电路设计应用中屡见不鲜，经典的74LS，74ALS等集成电路内部都使用了晶体管开关电路，只是驱动能力一般而已。

TTL晶体管开关电路按驱动能力分为小信号开关电路和功率开关电路;按晶体管连接方式分为发射极接地(PNP晶体管发射极接电源)和射级跟随开关电路。

我们的优势

中析检测拥有现代化的同领域中较大较完善的分项检测实验室和检测人员，包括化学分析、色谱检测、原子吸收检测、光谱检测、力学测试、材料检测、生物化学、工业诊断等实验室。实验室配备了高精度的原子荧光、原子吸收仪、核磁共振、气相色谱仪、液相色谱仪 、离子色谱仪、红外光谱仪、紫外/可见分光光度计等200多台套先进的检测仪器。检测人员均毕业于相关专业，具有精湛的检测技术和检测能力，确保满足客户各类检测的需求。

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