IC测试仪温漂试验

检测项目

直流参数温漂：检测测试仪在温度变化下，其直流电压源、电流源的输出精度及测量单元的测量精度变化。

交流参数温漂：评估测试仪在温度变化时，其交流信号（如频率、边沿时间、周期等）的生成与测量准确性。

时序精度温漂：检测测试仪内部时序发生器（如周期、脉宽、延迟）在不同温度下的稳定性和精度偏移。

电压参考源温漂：评估测试仪内部高精度电压参考源随温度变化的稳定性，这是所有模拟测量的基础。

引脚电子（PE）电平精度温漂：检测驱动器和比较器的VIH、VIL、VOH、VOL等电平阈值随温度的漂移情况。

动态负载电流温漂：评估测试仪在施加动态负载时，其电流供应与测量能力受温度影响的程度。

接触电阻温漂：分析测试仪测试通道及探针卡/插座在温度循环中接触电阻的变化对测试结果的影响。

电源噪声抑制比温漂：检测测试仪内部电源的噪声水平及其抑制能力在不同温度环境下的表现。

时钟抖动温漂：评估测试仪内部主时钟或同步时钟信号的抖动特性随温度变化的规律。

系统校准系数温漂：监测测试仪内部用于自我校准的各类补偿系数随温度的变化，确保校准有效性。

检测范围

工作温度范围：通常覆盖IC测试仪规格书定义的全工作温度范围，如0°C至+50°C或更宽。

存储温度范围验证：验证测试仪在非工作状态的极限存储温度下恢复后，其性能是否达标。

关键直流参数范围：涵盖从微伏(µV)级到数十伏(V)级的电压，以及纳安(nA)到安培(A)级的电流测量与驱动。

时序信号频率范围从低频（kHz）到测试仪支持的最高速率（数百MHz至GHz），检测不同频段下的温漂特性。

全通道覆盖：试验需覆盖测试仪的所有可用测试通道，以发现通道间的一致性差异。

多电源域范围：包括测试仪为待测芯片提供的所有可编程电源（VDD、VCC等）的电压与电流输出范围。

不同负载条件：在空载、标准负载及最大额定负载等多种条件下进行温漂试验。

湿度影响范围：部分试验需结合恒定湿度，考察温湿度耦合效应下的性能变化。

长时间稳定性范围：在特定温度点进行长时间（如24小时）监测，评估性能随时间漂移的情况。

快速温度循环范围：模拟快速升降温过程，检测测试仪对温度骤变的响应与恢复能力。

检测方法

恒温箱静态标定法：将测试仪置于高低温试验箱内，在多个稳定温度点进行静态参数测量与标定。

动态温度扫描法：控制试验箱以一定速率连续变化温度，同时连续采集测试仪的关键参数数据。

外部标准器比对法：使用更高精度的、已知温漂特性的外部标准源或测量设备，与被测测试仪的输出/读数进行比对。

内部自校准监测法：在温度变化前后及过程中，运行测试仪的内部自校准程序，记录校准系数的变化量。

闭环反馈补偿验证法：验证测试仪内置的温度传感器及实时补偿算法的有效性，评估补偿后的残余误差。

多点采样平均法：在每个温度点对同一参数进行多次采样并取平均值，以消除随机噪声干扰，获取真实温漂数据。

通道交叉验证法：利用测试仪内部一个相对稳定的通道作为参考，去测量其他通道在同一激励下的响应，分析通道间差异的温漂。

极限条件加压法：在极端温度下，让测试仪满负荷或超规格（短期）运行，考察其性能边界和失效模式。

热平衡等待法：在改变试验箱温度后，必须等待足够长时间，确保测试仪内部热分布完全均衡后再进行测量。

数据回归分析法：对采集到的温漂数据进行线性或多项式回归分析，建立温度-误差模型，计算温漂系数（如ppm/°C）。

检测仪器设备

高精度恒温恒湿试验箱: 提供可控且均匀的温度环境，温度控制精度通常需优于±0.5°C。

>超高精度数字万用表（DMM）: 作为外部标准器，用于校准和验证测试仪的电压、电流测量精度。

检测服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

合作客户展示

部分资质展示