碳纳米管检测

检测项目

碳纳米管的核心检测项目分为四大类：

结构表征：包括直径分布（1-100 nm）、长度统计（0.1-100 μm）、层数测定（单壁/多壁）及手性角测量

纯度分析：金属催化剂残留量（Fe/Ni/Co等）、无定形碳含量（＜5%）、石墨碎片比例及灰分测定

表面特性：官能团类型（-COOH/-OH）、缺陷密度（ID/IG比值）、Zeta电位及比表面积（50-1315 m²/g）

性能测试：拉伸强度（11-63 GPa）、电导率（10³-10⁶ S/m）、热导率（3000-3500 W/mK）及分散稳定性

检测范围

检测对象覆盖全品类碳纳米材料体系：

应用领域：电子器件电极材料、复合材料增强相、生物医学载体、储能系统组件

材料形态：粉末状体材料（Bulk CNTs）、定向阵列薄膜、功能化修饰产物、液相分散体系

：CVD法产物中催化剂分布特征、电弧放电法制备材料的结晶度差异、激光烧蚀法制品的直径均一性

质量等级判定：工业级粗产品（纯度＞80%）、研究级高纯品（纯度＞95%）、医用级功能化产品（内毒素＜0.25 EU/mg）

检测方法

标准化检测技术体系包含以下方法学组合：

显微分析法：透射电镜（TEM）实现原子级层数解析，扫描电镜（SEM）统计宏观形貌分布

光谱学技术：拉曼光谱（532/785 nm激光源）定量缺陷密度，近红外光谱测定半导体性占比

：空气氛围TGA测定无定形碳含量（300-500℃失重段），惰性气体TGA分析金属催化剂残留量

：X射线光电子能谱（XPS）解析表面官能团类型，BET法测定比表面积及孔径分布

：原子力显微镜（AFM）三点弯曲试验测量弹性模量，纳米压痕仪测定硬度值

：四探针法测量薄膜电导率，场效应晶体管构型测试载流子迁移率

检测仪器

关键仪器设备及其技术参数如下：

：分辨率≤0.1 nm，配备EDS实现元素面分布分析

：光谱分辨率＜1 cm⁻¹，空间分辨率＜500 nm的深度剖面扫描能力

：TGA-DSC联用系统，温度精度±0.1℃，气体切换模块支持动态气氛控制

：峰值力定量纳米力学模式（PF-QNM），力分辨率达10 pN级

：相位分析光散射技术（PALS），支持0.3-10 μm粒径范围的分散稳定性评估

：配备高能单色器（Cu Kα, λ=1.5406 Å），最小步长0.0001°的晶体结构解析能力

：多角度相关器配置（15°-165°），可测粒径范围0.3 nm-10 μm的分散体系表征

：电流范围10 pA-100 mA，电压分辨率0.1 μV的宽域测量能力

检测服务范围

1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测

2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测

3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。

4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;

5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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