光伏组件LID测试检测
发布时间：2025-05-09
光伏组件LID（光致衰减）测试是评估组件初始光致衰减性能的核心检测项目，直接影响电站长期发电效率。本文从专业检测角度出发，系统阐述LID测试的关键指标、适用组件类型、标准化测试流程及精密仪器配置要求，重点解析IEC61215与GB/T6495.11标准框架下的技术实施要点。
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
光伏组件LID测试聚焦三大核心指标：
初始光致衰减率：测量组件在标准测试条件（STC）下经72小时连续光照后的功率损失百分比
功率衰减稳定性：评估组件在完成初始光衰后的功率输出波动范围
温度系数影响：分析不同环境温度对光致衰减速率的加速效应
隐裂敏感性：通过EL成像技术监测电池片隐裂在光致条件下的扩展趋势
检测范围
本测试适用于以下光伏组件类型：
晶体硅组件：包括P型单晶硅（Mono PERC）、多晶硅（Poly-Si）及N型TOPCon结构组件
薄膜组件：涵盖碲化镉（CdTe）、铜铟镓硒（CIGS）等非晶硅材料体系
特殊环境组件：针对高辐照地区（＞1000W/m²）、湿热气候带设计的强化型组件
新型结构组件：双面发电组件、叠瓦式组件的双面LID特性评估
检测方法
依据IEC 61215-2:2021标准执行三级测试程序：
预处理阶段：在25±5℃暗室环境中静置24小时消除热历史效应
基准测试：使用AAA级太阳模拟器测量初始IV特性曲线（辐照度1000W/m²±3%，光谱匹配度A级）
光浸泡处理：
辐照强度：800-1000W/m²连续可调
温度控制：60±2℃恒温平台（符合IEC TS 62915温度加速模型）
持续时间：72±0.5小时连续光照（光谱偏差＜±5%）
后处理测量：
冷却至25℃后复测IV曲线参数
EL成像系统捕捉微观缺陷演变（分辨率≥5MP，灵敏度＜0.1%功率损失）
检测仪器
完整LID测试系统包含以下核心设备：
| 设备类型 | 技术参数 | 功能说明 |
|---|---|---|
| 稳态太阳模拟器 | 光谱匹配度AM1.5G±5% | 提供标准测试条件光源环境 |
| 高精度IV测试仪 | 扫描速度≤10ms/点 | 捕获组件动态IV特性曲线 |
| 恒温控制平台 | 升降温速率≥3℃/min | 精确模拟户外温度工况条件 |
| 电致发光成像系统 | 暗电流噪声＜10e-/pixel/s | 可视化分析电池片缺陷演变规律 |
| 数据采集系统 | RS485/GPIB通讯接口 | 实现多参数同步监测与记录分析 |
整套系统需通过CNAS实验室认证校准，关键仪器年校准周期不超过12个月。数据采集软件应具备EN 50530标准算法库，支持最大功率点跟踪误差分析及长期衰减趋势预测功能。
检测服务范围
1、指标检测：按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享：按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析：对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4，样品前处理：对产品进行预处理后，进行样品前处理，包括样品的采集与保存，样品的提取与分离，样品的鉴定以及样品的初步分析，通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析：根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测，然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。
合作客户展示
部分资质展示
