热门检测
最新项目
GB/T21649.1-2024粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法
发布时间:2024-12-24
本文件规定了待测颗粒相对于成像设备的光轴速度为零时,用于测量颗粒粒度分布的图像分析方法。良好分散待测颗粒并固定在测试仪器的物面上。通过移动载物台或摄像头,仪器的视场可以实现对物面上颗粒图像的采集,同时又不会引起颗粒图像的运动模糊。随后对图像进行分析。
本方法适用于通过光学或电子检测系统获取的数字图像分析。本方法并不涉及获取图像的方法,尽管检测参数设置与校准对颗粒粒度测定的准确度影响很大。本方法仅涉及通过完整像素计数法分析图像的方法。
粒度分布的类型(基于数量或是体积)和分布宽度对为确保在指
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
标准中涉及的相关检测项目
标准《GB/T21649.1-2024 粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法》主要涉及粒度分析的相关检测项目。这项标准通常包含以下几个方面:
检测项目:- 粒径测量:通过图像分析确定颗粒的粒径分布。
- 形状分析:评估颗粒的形状特征,如圆形度、长宽比等。
- 分布均匀性:分析颗粒在样品中的分布情况。
图像分析法是利用光学显微镜或摄像系统获取颗粒的静态图像,并通过软件进行分析。这包括:
- 颗粒识别:使用图像处理算法识别和分割颗粒。
- 测量与计算:根据图像数据计算颗粒的粒度和形状参数。
本标准适用于多种需要粒度分析的产品和材料,例如:
- 粉体材料:如金属粉末、陶瓷粉末。
- 化工产品:如颜料、胶体颗粒。
- 食品工业:如面粉、糖粉。
- 医药行业:如药物颗粒、辅料。
以上信息概述了标准中可能涉及的主要内容,具体细节和检测流程仍需参阅标准文本和相关技术文件。
GB/T21649.1-2024粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法 的简介
本文件规定了待测颗粒相对于成像设备的光轴速度为零时,用于测量颗粒粒度分布的图像分析方法。良好分散待测颗粒并固定在测试仪器的物面上。通过移动载物台或摄像头,仪器的视场可以实现对物面上颗粒图像的采集,同时又不会引起颗粒图像的运动模糊。随后对图像进行分析。本方法适用于通过光学或电子检测系统获取的数字图像分析。本方法并不涉及获取图像的方法,尽管检测参数设置与校准对颗粒粒度测定的准确度影响很大。本方法仅涉及通过完整像素计数法分析图像的方法。
粒度分布的类型(基于数量或是体积)和分布宽度对为确保在指定的置信区间内取得预期的测试准确度所测定的颗粒数量,具有很大影响。实例见附录A。
为使测量的颗粒数足够多,从而实现所要求的测量精密度,可以采用自动分析技术。
本文件不涉及样品制备。为确保试验结果的准确度和精密度,待测颗粒的采样、分散和代表性取样都是操作过程中的至关重要环节。
注:关于采样和样品制备的细节详见ISO14887和ISO14488。
GB/T21649.1-2024粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法 的基本信息
标准名:粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法
标准号:GB/T 21649.1-2024
标准类别:
发布日期: 2024-09-29
实施日期:
标准状态:即将实施

合作客户展示

部分资质展示
