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GB/T44293-2024显微物镜数值孔径图像式测量方法
发布时间:2024-12-24
本文件描述了显微物镜数值孔径图像式测量方法的测量原理、测量装置、测量环境、测量步骤以及不确定度分析。
本文件适用于数值孔径标称值大于1.00的无限远校正显微物镜的数值孔径测量。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
标准中涉及的相关检测项目
对于《GB/T 44293-2024 显微物镜数值孔径图像式测量方法》,你可能会对以下几个方面感兴趣:相关的检测项目:
- 数值孔径的精确测量
- 显微物镜的分辨率测试
- 物镜成像质量评估
- 物镜的光学畸变检测
检测方法:
- 使用标准样板对数值孔径进行校准测试
- 通过分辨率板进行分辨率检测
- 应用图像分析软件对成像质量进行客观评价
- 采用特殊的光学仪器进行透镜畸变测量
涉及产品:
- 生物显微镜
- 工业显微镜
- 研究级显微镜
- 机器人和自动化中的视觉系统
GB/T44293-2024显微物镜数值孔径图像式测量方法 的简介
本文件描述了显微物镜数值孔径图像式测量方法的测量原理、测量装置、测量环境、测量步骤以及不确定度分析。本文件适用于数值孔径标称值大于1.00的无限远校正显微物镜的数值孔径测量。
GB/T44293-2024显微物镜数值孔径图像式测量方法 的基本信息
标准名:显微物镜数值孔径图像式测量方法
标准号:GB/T 44293-2024
标准类别:
发布日期: 2024-08-23
实施日期:
标准状态:即将实施

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