光学元件检测
发布时间:2025-06-19
光学元件检测聚焦于关键光学参数的精确测量,涵盖面形精度、表面质量、材料特性等核心指标。专业检测需依据国际规范,通过精密仪器对透射率、反射率、像差等参数进行量化分析,确保元件满足光学系统设计要求。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
面形精度检测:使用激光干涉仪测量光学表面与理想曲面的偏差,PV值≤0.1λ,RMS≤λ/50(λ=632.8nm)
表面粗糙度检测:白光干涉仪测量微观不平度,Ra值范围0.1nm~1μm,空间波长0.1μm~1mm
表面疵病检测:依据ISO 10110-7标准,识别划痕(宽度0.003~0.1mm)、麻点(直径0.005~0.5mm)等缺陷
透射波前畸变:双光束干涉法检测,波像差≤λ/10 PV@632.8nm
光谱透射率:紫外-可见分光光度计测量200~2500nm波段,精度±0.3%T
反射率特性:V-W法测量5°~85°入射角范围,250~2000nm波段反射率误差±0.5%
折射率均匀性:激光偏折法检测,Δn≤±2×10⁻⁶
应力双折射:偏振干涉仪测量,光程差≤5nm/cm
中心厚度偏差:激光测厚仪检测,精度±0.001mm
曲率半径:球径仪测量,精度±0.01%
焦距测量:准直光管法,误差±0.05%
环境耐久性:高温85℃/低温-40℃循环试验,湿热95%RH@45℃测试
检测范围
球面光学透镜:包括凸透镜、凹透镜、消色差双胶合透镜等成像元件
非球面光学元件:抛物面镜、椭球面镜等复杂曲面光学器件
平面光学元件:窗口片、分光镜、滤光片等平行平板元件
棱镜类光学件:直角棱镜、五角棱镜、屋脊棱镜等光路转向元件
微透镜阵列:周期结构检测,单元尺寸0.01~2mm
红外光学材料:锗、硅、硫化锌等材料制成的中远红外元件
紫外熔石英元件:适用于深紫外波段的高纯度光学元件
激光光学组件:高反镜、扩束镜、谐波分离镜等激光系统专用元件
光学镀膜元件:增透膜、分光膜、金属反射膜等涂层光学件
衍射光学元件:菲涅尔透镜、衍射光栅等相位调制器件
光纤通信元件:准直器、隔离器、WDM滤光片等光通信组件
航天光学载荷:空间相机镜片、星敏感器光学系统等空间级元件
医用内窥镜镜片:直径0.5~10mm微型光学系统
投影显示元件:复眼透镜、PBS棱镜等光引擎核心组件
VR/AR光学模组:自由曲面棱镜、波导片等近眼显示光学件
检测标准
ISO 10110系列:光学元件制图规范,涵盖表面缺陷、材料缺陷等12项指标
ISO 12123:光学玻璃毛坯质量要求规范
ISO 9211-4:光学镀膜环境耐久性测试方法
MIL-PRF-13830B:美国军用光学元件检验规范
GB/T 1185:光学零件表面疵病检测标准
GB/T 7661:光学零件气泡度检测方法
GB/T 26333:红外光学材料折射率测试方法
GB/T 31370.2:平板显示器用透明导电膜光学性能检测
检测仪器
Zygo激光干涉仪:波长632.8nm,面形检测精度λ/1000 PV,用于光学表面形貌测量
Taylor Hobson轮廓仪:垂直分辨率0.1nm,测量表面粗糙度及微观轮廓
PerkinElmer Lambda 1050分光光度计:双单色器结构,光谱范围175~3300nm,测量透射/反射光谱
Trioptics中心偏测量仪:角度分辨率1",检测透镜光轴与机械轴偏差
4D Technology动态干涉仪:抗振设计,现场检测大口径光学元件面形
Bruker ContourGT白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm,三维表面形貌重建
OptiGauge气动测厚仪:分辨率0.1μm,非接触测量光学中心厚度
检测服务范围
1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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