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GB/T34018-2017无损检测 超声显微检测方法
发布时间:2024-12-21
本标准规定了采用超声显微镜对材料或构件进行无损检测的方法。本标准适用于检测各类金属和非金属固体材料以及电子封装的内部纳米或微米级缺陷的检测。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
标准中涉及的相关检测项目
以下是对标准《GB/T 34018-2017 无损检测 超声显微检测方法》的相关内容进行总结,并用适当的HTML标签格式化: ```html《GB/T 34018-2017 无损检测 超声显微检测方法》的相关内容
1. 检测项目
根据标准规定,超声显微检测的主要检测项目包括:
- 缺陷检测:检测材料内部或表面微小缺陷,包括裂纹、孔隙、分层等。
- 均匀性分析:检测材料的组织均匀性或多层结构的分层情况。
- 厚度测量:测量薄膜或涂层的精确厚度。
- 界面结合质量:分析多层材料和组件的界面结合情况。
- 微观结构评估:对材料微观组织结构的非破坏性分析。
2. 检测方法
标准中推荐的超声显微检测方法主要包括以下几种:
- 脉冲反射法:利用超声波在材料界面发生反射的特性,检测内部缺陷和界面状态。
- 透射法:通过发射与接收超声波信号,评估材料透波能力及其均匀性。
- 聚焦检测:采用聚焦式超声束,大幅提高空间分辨率,用于检测微小缺陷。
- 定量分析法:定量分析材料内部的缺陷大小、深度及分布情况。
- 图像扫描法:采集并生成材料内部的二维或三维显微结构图像。
3. 涉及产品
标准涉及的超声显微检测方法广泛应用于以下产品及领域:
- 微电子产品:如芯片、微型传感器及印刷电路板的检测。
- 复合材料:用于检测复合材料的分层、空隙及界面结合情况。
- 金属材料:应用于高性能合金、薄膜材料的结构检测。
- 航空航天部件:用于关键部件的无损检测,如涂层、焊接件及结构材料。
- 半导体材料:评估半导体晶圆及相关产品的质量。
- 医疗器械材料:检测包括生物材料在内的精密材料表面或内部的缺陷。
- 陶瓷及玻璃:检查这些材料中的裂纹、气泡和密度变化。
GB/T34018-2017无损检测 超声显微检测方法 的简介
本标准规定了采用超声显微镜对材料或构件进行无损检测的方法。本标准适用于检测各类金属和非金属固体材料以及电子封装的内部纳米或微米级缺陷的检测。GB/T34018-2017无损检测 超声显微检测方法 的基本信息
标准名:无损检测 超声显微检测方法
标准号:GB/T 34018-2017
标准类别:
发布日期: 2017-07-12
实施日期:
标准状态:现行

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