覆铜箔板检测
发布时间:2025-04-21
覆铜箔板作为印制电路板(PCB)核心基材,其性能直接影响电子设备可靠性。专业检测涵盖物理特性、电气性能及环境适应性三大维度,重点包括厚度均匀性、剥离强度、介电常数等18项关键指标。本文依据IEC61249、IPC-4101等行业标准体系,系统解析覆铜箔板检测的技术规范与实施要点。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测项目
基础物理特性:厚度公差(±5μm)、表面粗糙度(Ra≤0.5μm)、尺寸稳定性(CTE≤15ppm/℃)
机械性能:剥离强度(≥1.0N/mm)、弯曲强度(≥400MPa)、抗冲击韧性
电气特性:介电常数(Dk≤4.5@1GHz)、介质损耗(Df≤0.02@1GHz)、体积电阻率(≥1×1012Ω·cm)
热学性能:玻璃化转变温度(Tg≥140℃)、热分解温度(Td≥320℃)、Z轴膨胀系数
化学耐受性:耐酸性(10%HCl/24h)、耐碱性(10%NaOH/24h)、耐溶剂性
环境可靠性:湿热老化(85℃/85%RH/1000h)、热冲击(-55℃~125℃/100cycles)
检测范围
材料类型:FR-4标准型、高Tg型(Tg≥170℃)、无卤素型、高频高速型(Dk≤3.8)
结构形式:单面覆铜箔、双面覆铜箔、金属基覆铜板
应用领域:
消费电子:厚度0.2-1.6mm常规板材
汽车电子:耐高温型(150℃持续工作)
5G通信:超低损耗材料(Df≤0.005)
航空航天:抗辐射改性板材
特殊性能要求:CTI≥600V(耐漏电起痕)、UL94 V-0阻燃等级
检测方法
厚度测量:依据IPC-TM-650 2.4.22标准,采用三点接触式测厚仪进行9点矩阵采样
剥离强度测试:执行IPC-TM-650 2.4.8方法,以50mm/min速率进行90°剥离试验
介电特性分析:基于ASTM D150规范,使用平行板夹具在1MHz-10GHz频段扫描测试
Tg测定:差示扫描量热法(DSC)按IPC-TM-650 2.4.25执行升温速率20℃/min
耐化学性试验:参照IEC 60893-3标准进行溶液浸泡后目视检查+尺寸变化测量
湿热老化测试:依据JEDEC JESD22-A101E标准进行温湿度循环加速老化
检测仪器
精密测厚系统:Mitutoyo千分尺(精度±1μm)+自动平台实现全幅面扫描测量
万能材料试验机:Instron 5967型配备高温环境箱(-70~300℃)
介电分析仪:Keysight E4991B阻抗分析仪搭配16453A介电夹具
热分析系统:TA Instruments Q2000 DSC+TMA联合分析模块
环境试验箱:ESPEC SH-642湿热交变箱(温控精度±0.5℃)
微观形貌分析:Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦显微镜(12000×放大倍率)
光谱分析设备:PerkinElmer Spectrum Two FTIR红外光谱仪(4000-400cm-1)
检测服务范围
1、指标检测:按国标、行标及其他规范方法检测
2、仪器共享:按仪器规范或用户提供的规范检测
3、主成分分析:对含量高的组分或你所规定的某种组分进行5~7天检测。
4,样品前处理:对产品进行预处理后,进行样品前处理,包括样品的采集与保存,样品的提取与分离,样品的鉴定以及样品的初步分析,通过逆向剖析确定原料化学名称及含量等共10个步骤;
5、深度分析:根据成分分析对采购的原料标准品做准确的定性定量检测,然后给出参考工艺及原料的推荐。最后对产品的质量控制及生产过程中出现问题及时解决。

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